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  • 日本日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪参数

    概要:自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A,在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点...

    2024-03-21 875
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