黑龙江ASTMD150介电常数测试仪palm m500 价格

ASTMD150介电常数测试仪本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。

◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。
◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。
◎ TFT彩频多参数显示：测试频率，电容值，电感值，Q值，ε和tanδ等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ 数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。
◎ USB通讯接口。

ASTMD150介电常数测试仪主要技术指标：

2.1 测试信号频率范围：1kHz～110MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，四位有效数显。精度0.05%。
2.2 Q值测量范围：5～999四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差：±5%±2% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围：20nH～5.0H,四位数显。
2.5 电感测量误差：≤3%±20nH
2.6 调谐电容特性：
2.6.1可调电容范围：28pF～490 pF，四位数显，0.1 pF分辨率。
2.6.2 精确度：±0.5% 或±1pF。
2.6.3电容测量范围：1～450pF，四位数显，0.1 pF分辨率，1%或1pF精度。
2.6.4残余电感值：约20nH。
2.7 Q预置功能：Q预置范围：5～999均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。

    不合格件则显示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量：415×180×170（mm）,7kg。

满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

 测试原理

采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。

 仪器的技术指标

Q值自动锁定，无需人工搜索

Q表正常工作条件

a. 环境温度：0℃～+40℃

b．相对湿度：<80％；

c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

10．其他

a．消耗功率：约25W；   

b．净重：约7kg；   

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

11．产品配置：

a.测试主机一台；

b.电感一套；

c.夹具一 套

性能特点：

1.    平板电容器     极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm  极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm

2.    园筒电容器     电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm

3.  夹具插头间距：25mm±1mm

4.  夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）

5、数显电极

维修保养

本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：

1.    平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

2.    园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。

3.    保证二个测微杆0.01mm分辨率。

4.    用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。

附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表

BH916测试装置                                        GDAT高频Q表

平板电容极片 Φ50mm/Φ25.4mm                         可选频率范围20KHz-100MHz

                                                                 20KHz-70MHz

                                                                 200KHz-160MHz

 间距可调范围≥15mm                                   频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm                             主电容调节范围30-500/18-220pF

测微杆分辨率0.001mm                                  主调电容误差<1%或1pF 

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)                    Q测试范围2～1023

• 产品资料
• 实验结果

• 介电常数介质损耗检测仪

• 介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪
• 工频介电常数介质损耗测试仪
• 薄膜全自动介电常数测试仪